Ой, сталась помилка! А де ж JavaScript? Схоже, що Ваш переглядач не підтримує технологію JavaScript або її вимкнено. Будь ласка, увімкніть JavaScript для коректного відображення цього сайту, або використайте іншого переглядача інтернет сторінок, який має підтримку JavaScript.
Нанозондові методи діагностики напівпровідникових і діелектричних матеріалів

Методичні матеріали

Інформація для здобувачів освітнього рівня доктора філософії спеціальності


Викладає: к. ф.-м. н., с.н.с. Литвин Петро Мар’янович

Література та навчально-методичні матеріали:

  • Силабус дисципліни (pdf)
  • Лекції (google диск)
  • Покриття у приладобудуванні : монографія / В. С. Антонюк, Г. С. Тимчик, Ю. Ю. Бондаренко, Ю. І. Коваленко, М. О. Бондаренко, Р. П. Гайдаш. ; Міністерство освіти і науки України, Національний технічний університет України "Київський політехнічний інститут". – Київ : НТУУ "КПІ", 2016. – 364 с.http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/36387
  • Антонюк В.С., Тимчик Г.С., Варцанова О.В., Бондаренко Ю.Ю., Білокінь С.О., Бондаренко М.О. Мікроскопія в нанотехнологіях. – НТУУ «КПІ», ВПІ ВПК «Політехніка», 2013. – 258 с. https://www.twirpx.com/file/2450854/
  • Горячко А., Кулик С., Прокопенко О. Основи скануючої зондової мікроскопії та спектроскопії. Підручник. Ч.1. – Київський націон. ун-т ім. Т. Шевченка, 2010. – 133 http://rex.knu.ua/wp/wp-content/uploads/2017/10/Gorjachko_etal_Osnovi_SZM_part1.pdf
  • Горячко А., Кулик С., Прокопенко О. Основи скануючої зондової мікроскопії та спектроскопії. Підручник. Ч.2 – Київський націон. ун-т ім. Т. Шевченка, 2012. – 170 с.  http://rex.knu.ua/wp/wp-content/uploads/2017/10/Gorjachko_etal_Osnovi_SZM_part2.pdf