Міжнародне наукове співробітництво

в 2016 році:

Країна партнер: Ізраїль
Установа-партнер: Академія наук – інститут незалежних досліджень, Ейлат-Хайфа
Тема співробітництва: Збільшення якості, надійності та довговічності технічних систем та технологічних процесів
Практичні результати та публікації: Патент № 408999 "Способ обнаружения дефектов при полученни методами нанотехнологий физико-химической информации"

Країна партнер: Литва
Установа-партнер: Каунаський технологічний університет
Тема співробітництва: Виявлення дефектів у навігаційних приладах методами нанотехнологій фізико-хіміченої інформації
Практичні результати та публікації: Стаття - Dislocation avalanches problem and the process of self-organized criticality in piezoelectric and pyroelectric GaAs sensors

Країна партнер: Молдова
Установа-партнер: Кишинівський національний університет
Тема співробітництва: Збільшення якості, надійності та довговічності технічних систем та технологічних процесів
Практичні результати та публікації: Пат. № 4099 Молдова, МКВ 3 H 04 С 1/38, Н 04 J 12/00 заявитель и патентообладатель Кишиневский университет. - №1223893111, заявл. 21.04.10 г.; опубл. 12.12.15, Бюл. № 28

Країна партнер: Швейцарія
Установа-партнер: Європе́йська організація з я́дерних дослі́джень (ЦЕРН) – міжнародний дослідницький центр
Тема співробітництва: стажування в лабораторії фізики високих енергій CERN
Грант:06-08.2016 Студент кафедри прикладної фізики Оліфер Л.А.,  науковий керівник доцент Монастирський Г.Є.

Результати виконання НДДКР, впроваджено результатів розробок у виробництво:

технічні пропозиції щодо створення спільного підприємства з виробництва рентгенівських трубок на основі нанокомпозитної металокераміки для медичної та технічної діагностики;

Впроваджено у - м. Харбін, КНР; 06.2015

Статті, що опубліковано в міжнародних виданнях

Богорош О.Т. Муравов С.О. Воронов С.О. Бубулис С.А. Гордійко Н.О., The study of ferroelectric thin films on silicon substrates. Journal of Measurements in Engineering, March 2013, Volume 1, Issue 1, ISSN 2335–2124, pp.23–27.

Участь у міжнародних конференціях:

A. Yudin, S.Voronov, A.Bogorosh. An avalanche of dislocations and spikes in electronic circuit boards. 3rd/2013 Международная конференция по прикладной механике, материалы и производственные (ICA3M 2013) www.icammm.org 24-25 августа Далянь

Міжнародні конференції:

Богорош О.Т. - участь у редакційній колегії V міжнародної наукової конференції "сучасні досягнення в науці та освіті" - 04 жовтня 2011 м. Нетанія, Ізраїль