Ой, сталась помилка! А де ж JavaScript? Схоже, що Ваш переглядач не підтримує технологію JavaScript або її вимкнено. Будь ласка, увімкніть JavaScript для коректного відображення цього сайту, або використайте іншого переглядача інтернет сторінок, який має підтримку JavaScript.

Новини

Екскурсія студентів до інституту фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова НАНУ.

Екскурсія студентів до інституту фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова НАНУ.У п’ятницю 21 листопада 2022 р. на запрошення керівництва Інституту фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова НАНУ для студентів 3-го та 4-гу курсів та викладачів кафедри Прикладної фізики була організована і проведена екскурсія на території  інституту.

Метою екскурсії було ознайомлення з науковими тематиками, які виконуються у лабораторіях Інституту та встановлення наукових контактів з метою співробітництва в майбутньому.
photo1670827477_16.jpg (131 K<img class='smiley' style='width:20px;height:20px;' src='../../images/smiley/cool.svg' alt='Cool'>
Екскурсія розпочалася із виставкової зали, де студенти ознайомилися із історію створення інституту, а також із його науково-технічними розробками та здобутками. Вступне слово мав заступник директора Солнцев В.С.
photo1670827477_14.jpg (140 K<img class='smiley' style='width:20px;height:20px;' src='../../images/smiley/cool.svg' alt='Cool'>
Далі студенти відвідали наукові лабораторії і ознайомилися з презентаціями наукових досліджень Качур Н.В. (лабораторія Маслова В.П., відділ фізико-технологічних основ сенсорного матеріалознавства), Пономаренко В.В., Кульбачинський О.А. (лабораторія йонно-променевої інженерії і структурного аналізу), Мазяр Д.М. (лабораторія Оптики і спектроскопії).
photo1670827477_28.jpg (119 K<img class='smiley' style='width:20px;height:20px;' src='../../images/smiley/cool.svg' alt='Cool'>
Під час екскурсії студенти відвідали Центр колективного користування приладами НАН України, в якому познайомилися із новітніми методиками дослідження та діагностики матеріалів: 
•  атомно-силова мікроскопія (на повітрі та у рідких середовищах);
•  магнітна, електростатична та Кельвін-зонд мікроскопія;
•  провідна та ємнісна мікроскопія (картографування та локальні ВАХ і ВФХ);
•  тунельна мікроскопія (на повітрі);
•  наноіндентування;
•  елементи нанолітографії і наноманіпуляцій.

Загалом проведена екскурсія була науково пізнавальною, створила гарне враження для студентів, а для викладачів кафедри Прикладної фізики – відкрила нові наукові контакти та можливості для співробітництва. Відповідальний за організацію екскурсії від кафедри – Долгошей В.Б. 
photo1670827477_1.jpg (154 K<img class='smiley' style='width:20px;height:20px;' src='../../images/smiley/cool.svg' alt='Cool'>

Також ви можете ознайомитись з фото звітом екскурсії.